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日立 Regulus8240超高分辨場發射掃描電子顯微鏡$n日立 超高分辨場發射掃描電子顯微鏡$n特點：$n沿用“SU8200系列“的冷場發射電子槍*2$n采用電子束在Flashing后出現的高亮度穩定區域作為穩定觀察的區間，使得低加速電壓條件下兼備高分辨觀察和分析的優良性能$n(Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV)

日立 HF5000 電子顯微鏡聚光鏡球差電鏡 日立電子顯微鏡聚光鏡球差電鏡 特點 標配日立生產的照射系統球差校正器（附自動校正功能） 搭載具有高輝度、高穩定性的冷場FE電子槍 鏡體和電源等的高穩定性使機體的性能大幅度提升 觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時觀察原子分辨率SE圖像 采用側面放入樣品的新型樣品臺結構以及樣品桿 支持高立體角EDX*的對稱配置（對稱Dual SDD*） 采用全新構

日立 HD-2700 球差校正掃描透射電子顯微鏡 日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 發射球差校正掃描透射電鏡,相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術,大大減小了透鏡球差對分辨率的影響,從而可以實現超高分辨率的觀察.

日立高反差型透射HT7800電子顯微鏡 日立高反差型透射電子顯微鏡 特點 日立的雙隙物鏡設計，支持低倍率下的大視野高反差觀察與高分辨率觀察 憑借在明亮環境中的數字化操作環境和各種自動功能，從初學者到熟練者均可操作 通過全新設計的“Image Navigation“功能，可輕松搜尋視野和拍攝圖像 配備全自動圖像拼接功能、三維重構、STEM和EDX等選配項，支持多種用途 通過選擇高分辨率透鏡，實現

日立臺式掃描電子顯微鏡 TM4000II維翰光電 日立臺式掃描電子顯微鏡 維翰光電 特點 觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數據，并制作報告。

HITACHI日立掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II維翰光電 HITACHI日立掃描電子顯微鏡 維翰光電 特點 FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡

日立SU9000冷場電鏡超高分辨率冷場發射電子顯微鏡 日立冷場電鏡超高分辨率冷場發射電子顯微鏡 產品介紹： 專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。

日立SU8700發射掃描電子顯微鏡 進口超高分辨電鏡 日立發射掃描電子顯微鏡 進口超高分辨電鏡 特點 超高分辨觀察和強分析能力