玉崎科學 日本 SANKO三高電磁式渦流膜厚計 

玉崎科學 日本 SANKO三高電磁式渦流膜厚計 

具有探頭兼容性、內存、統計計算、數據傳輸等功能的高性能型。

*專用探頭單獨出售。 （該探頭與 SWT-9000 系列或更早版本不兼容。）

特征

可根據測量目的選擇連接探頭。

液晶顯示屏上顯示引導操作流程。

大容量測量值存儲器（NEO II：20,000點，NEO III：40,000點）。

通過注冊校準曲線輕松調用測量

內置上下限設置及統計計算功能。

數據可以通過USB連接傳輸到計算機。

內置低功率無線輸出（NEO-III）。

傾斜支架

目的

噴漆/襯里/電鍍

防蝕鋁等絕緣膜

規格

測量范圍

取決于連接探頭（單獨出售）

顯示方式

圖形液晶顯示器

校準曲線校準

2點校準

校準曲線記憶

NEO-Ⅱ：10個

NEO-Ⅲ：100個

測量值記憶

NEO-Ⅱ：20,000點

NEO-Ⅲ：40,000點

數據傳輸

USB、低功率無線電 (NEO-III)

電源

AA 堿性電池 (1.5V) x 2 連續使用時間（25 小時*） 帶自動斷電功能的

AC 適配器 *最大值（可能因使用條件而異）

工作溫度

0～40℃（無凝結）

尺寸

72(寬)×30(高)×156(深)毫米

重量

約200g（含電池）

配件

電池、便攜硬盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、

使用說明書（包含在驅動程序 CD 中）、AC 適配器、USB 傳輸線、驅動程序 CD

探測

請根據測量的母材來選擇。

選項

探頭，

用于黑色金屬基材（SFe）

，用于有色金屬基材（SNFe）

，用于黑色金屬基材，用于有色金屬基材（SFN-325）

專用打印機單元（SWT-NEOⅢ）